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电容器元件的失效规律

时间: 2019-09-04  来源:陶瓷电容器厂家 作者:瓷谷电子
    在可靠性指标中,失效率(λ)是衡量元件可靠性的主要指标。λ愈小就表示元件可靠性愈好。大量实验表明:元件失效率与工作时间之间的关系呈宽底谷型(浴盆形、船底形)曲线(见图2.30)。
 
   曲线分三个区域:A区为早期失效区,B区为偶然失效区,C区为耗损失效区。
   
    在早期失效区,λ随时间增加而下降。这表明产品由设计、生产过程中的工艺、材料等缺陷造成的隐患在元件工作后很快就暴露出来。通过严格的质量控制或工艺筛选及早期应力老化试验可减少或剔除早期失效产品。
 
    在偶然失效区,失效的发生带有随机性,λ低而稳定,是元件最良好的工作阶段,也称为元件的使用寿命期。
 
    耗损失效区是表征元件使用后期,产品由于老化或损伤等原因导致性能下降,失效率随时间的迁延而迅速增大。可能的话,应在元件进人耗损失效区前予以更换,以保证整机的可靠工作。

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