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陶瓷电容失效的内在因素有哪些

时间: 2019-07-19  来源:陶瓷电容器厂家 作者:瓷谷电子
陶瓷电容失效的内在因素主要有以下几种: 
 
1。陶瓷介质内空洞   
    导致空洞产生的主要因素为陶瓷粉料内的有机或无机污染,烧结过程控制不当等。空洞的产生极易导致漏电,而漏电又导致器件内部局部发热,进一步降低陶瓷介质的绝缘性能从而导致漏电增加。 该过程循环发生,不断恶化,严重时导致多层陶瓷电容器开裂、爆炸,甚至燃烧等严重后果。
 
2。烧结裂纹
    烧结裂纹常起源于一端电极,沿垂直方向扩展。主要原因与烧结过程中的冷却速度有关,裂纹和危害与空洞相仿。
3。分层
    多层陶瓷电容器的烧结为多层材料堆叠共烧。烧结温度可以高达1000℃以上。层间结合力不强,烧结过程中内部污染物挥发,烧结工艺控制不当都可能导致分层的发生。  分层和空洞、裂纹的危害相仿,为重要的多层陶瓷电容器内在缺陷。

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